Z扫描测试

1. 原理和仪器仪器：

由SheikBahae等人最先提出的激光Z扫描技术的实验装置如图所示。在紧聚焦配置下，采用高斯光束入射，改变样品在图中光轴(Z轴)上的位置，在远场测量通过一个位于光轴上的有限孔径A的透射率T，得到T-z函数曲线即Z扫描曲线。Z扫描曲线的形状即可以确定材料非线性系数的符号。进一步的理论分析还可以得到非线性系数的大小。

2. 产品特点：

（1）同时确定材料的非线性折射大小和符号、非线性吸收系数；

（2）测量波段：可见光～近红外波段 (根据用户所提供激光器的波长决定)；

（3）测量精度：非线性折射系数：>10^-18(SI)，非线性吸收系数：>10^-13(SI)；

（4）可选激光:飞秒激光、皮秒激光，可选波长：532nm，800nm，1064nm；

（5）自主研发的配套控制软件，可控制样品移动速度，可实现连续移动或按固定步长移动，测量灵敏度高。适用于液体、固体样品的测量；

（6）自主研发的数据分析处理软件，界面友好，操作简单。

 

 

图2：测试结果

3. 结果输出：

（1）测试数据

（2）报告

 

4. 客户提供：

（1）测试样品及测试项目；

（2）激光类型+波长；

（3）其他要求；

（4）反馈数据的报告格式和模板；

 

5.适用类别：
（1）半导体薄膜材料。

（2）无机、有机透明半透明材料。

该仪器主要用于材料光学非线性吸收和非线性折射性质的测量。通过测量材料在光路中移动时开孔、闭孔能量的变化，同时测量非线性折射和非线性吸收系数，并能确定非线性折射的符号。仪器自动化程度高，实验数据的采集、处理均由计算机控制。该仪器与同类产品相比，具有噪声低，稳定性好，精度高等优点。

（1）测试样品及测试项目；

（2）激光类型+波长；

（3）其他要求；

（4）反馈数据的报告格式和模板；