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电子探针显微分析仪 EPMA +软X射线分析谱仪 SXEX

周 期
3-5个工作日
设 备
JXA-8530F JXA-8230
测试价格
面议

服务描述

功能特点

★ 配有三道波谱仪六块晶体(LiF/PETJ、TAP/LDE2、PETH/LiFH)和软X射线谱仪,可实现: 3Li~ 92U元素的定性、定量分析;

★  独立、高速驱动的分光谱仪和高灵敏度的分光晶体,可实现快速分析,分光晶体自动交换,无需重新聚焦;

★  电子束流稳定性好,连续可调,样品台重复性 ≤ 2µm,机械系统精密度高;

★ 可进行高分辨二次电子、背散射电子成像,低倍下可实现大焦深观察;

★ 软X射线具有高的能量分辨率,可对特定元素的化学结合状态进行分析。

技术参数

 ● 二次电子分辨率/Resolution:

     LaB6:30kV —5nm;W :30kV—5nm 

 ● 束流稳定性/Beam stability:±0.05%/h

 ● 束流/beam current:10^-12 ~10^-5 A

 ● 加速电压/Accelerating voltage: 0~30 kV

 ● 检测分析范围/Range: 3Li~ 92U

 ● 分析精度/Analytical precision:

   优于1%(主元素,含量>5%),优于5%(次要元素,含量~1%)

 ● EPMA能量分辨率/Energy  Resolution:

   8eV (FWHM@Fe-K) 

 ● SXES能量分辨率/ Energy Resolution: 

   0.3eV(Al-L 光谱图73eV处测试)

项目介绍

固体材料成分的定性、定量分析及微观形貌观察,元素组成的点、线、面分析以及状态分析

样品要求

直径小于30mm,高度小于20mm

表面平整,导电

不导电需要喷碳

粉末样品需要包埋和抛光

结果展示

定量分析

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面分析

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