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服务描述
设备型号：LabRAM Odyssey
生产厂家：HORIBA
可检尺寸：2~6寸
可检材料：Si、SiC、GaAs、GaN、AlN
重复性：±0.02cm-1
项目介绍
用来绘制单晶材料晶型分布图
样品要求
可检尺寸：2~6寸
结果展示
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设备型号：LabRAM Odyssey
生产厂家：HORIBA
可检尺寸：2~6寸
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