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服务描述
非接触高阻电阻率测试仪是通过非接触电容探测系统来计算被测晶片的电阻
设备型号：COREMA-WT
生产厂家：Semimap
可检尺寸： 50至150mm
可检材料：Si、SiC、GaAs
测试范围：105Ω·cm ~1012Ω·cm
偏差：＜10%
项目介绍
非接触高阻电阻率测试仪是通过非接触电容探测系统来计算被测晶片的电阻
样品要求
50至150mm
结果展示
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