IV曲线测试

周期

7天内

设备

CT2-512X4S/SEMICAPS SOM 1100

测试价格

面议

服务描述

IV曲线测试服务

IV曲线的测试需要使用特定的测试设备，如IV曲线测试仪，半导体参数测试等，不同器件类型以及不同测试目的，需要用到的测试设备不不同。米格实验室能提供不同温度，不同精度，不同器件类型的IV曲线测试服务。

半导体参数测试仪+探针台

半导体参数测试仪型号：Keysight B1500A/ keithley 4200等

探针台型号：Lake Shore PS-100/MPI/TS3000等

测试温度范围:77.5K~473K(液氮控温)

电流测量范围：0.1fA ~ 1A；

电压测量范围：0.5µV ~ 200V；

最小探针直径：5um

特点

①精确的电流-电压（IV）测量，支持点测量、扫描测量、采样和脉冲测量；

②先进的脉冲IV测量和超快IV测量，最低采样间隔为5ns（200MSa/s）支持 NBTI/PBTI、RTN等先进应用；

IV曲线测试仪+EMMI自带探针台

在集成电路行业领域，有时涉及验证及测量半导体电子组件的电性、参数及特性，如电压-电流。集成电路失效分析流程中，I/V Curve的测量往往是非破坏分析的第二步（外观检查排在第一步），可见Curve量测的重要性。米格实验室有IV曲线测试仪搭配微光显微镜自带的探针台，也可以实现开/短路测量，I/V曲线测量，Idd测量，电源泄漏(漏电）测验等测试服务，主要服务于封装测试厂，SMT领域，失效分析等方面。

IV测试仪型号：CT2-512X4S

EMMI自带探针台：SEMICAPS SOM 1100

主要技术参数：

①最大电压：10V

②最大电流:100mA

③X-Y-Z 移动范围：50*50*100 毫米

④可测温度范围：室温

⑤电流源配置 Keithely2450

电压范围：±200V_x000b_电压分辨率：500nV

电流范围：小于等于 1A

电流分辨率：10fA

项目介绍

IV曲线测试是一种常用的电子元器件测试手段，通过测量电流和电压之间的关系来评价电子元器件的性能。在电子元器件的设计和制造过程中，IV曲线测试可以确定元器件的工作范围和性能，从而优化元器件的设计和制造过程。

样品要求

可测样品类型

1）测试材料尺寸：3、6、8、12英寸晶圆级器件；

2）直径30mm以下的碎片级器件；

3）其他器件，需提供封装形式和器件类型确认。

IV测试需要确认信息

①器件类型；

②测试目的；

③样品整体尺寸大小和结构信息（最好附带样品照片）；

④待测样品是小尺寸碎片还是整片晶圆的器件；

⑤测试电极尺寸大小；

⑥具体接电方式：电压范围，精度是否要求，是否需要限流，接电方式（用图示意正负极，正反向及对应电压多大，具体扎针位置），测试温度点，测试步长是否要求；

⑦是否需要现场测试；

⑧测试器件数量。

结果展示

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